Настоящий стандарт распространяется на оптические кристаллы (далее – кристаллы) в форме стержней, предназначенные для изготовления оптических деталей приборов, и устанавливает метод определения пузырности в видимом (от 0,38 до 0,78 мкм) диапазоне спектра с применением микроскопа. Определение размеров и числа включений, если их приравнивают к пузырям в соответствии с технической документацией (ТД) на кристалл конкретного типа, проводят по настоящему стандарту. Для определения пузырности кристаллов допускается применять другие методы, установленные в ГОСТ 3522.